[发明专利]一种星载InSAR长短基线融合解缠方法有效

专利信息
申请号: 201710500632.8 申请日: 2017-06-27
公开(公告)号: CN107102333B 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 徐华平;高帅;李硕;尤亚楠 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 11251 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种星载InSAR长短基线融合解缠方法,首先利用星载InSAR系统干涉处理流程分别反演出长基线和短基线的数字高程模型(简称DEM)。然后利用长基线和短基线图像中各个像素点对应地面点的三维坐标,再结合卫星参数和偏移量等数据,计算出长基线和短基线图像各自对应的垂直基线与有效基线,并且选择一合适的参考地面,计算出参考平面对应的长、短基线干涉相位。最后将之前获得的相关系数、参考平面相位、基线等作为辅助数据,利用最大似然法,进行长短基线相位数据的融合处理,这样便能得到精度更高的长基线解缠相位。本发明可以用于多基线干涉处理中,通过最大似然法融合长短基线解缠相位,能得到高质量的DEM;也可以用于干涉相位、高程等数据的融合处理。
搜索关键词: 一种 insar 长短 基线 融合 方法
【主权项】:
1.一种星载InSAR长短基线融合解缠方法,其特征在于:该方法包括以下几个步骤:/n步骤一:利用长基线和短基线的两对SAR图像分别反演出对应区域地面点的DEM;分别对长短基线SAR主辅图像干涉处理,对SAR主辅图像采用相关系数法进行粗配准,计算出整幅辅图像的偏移量,然后再将辅图像分块配准,拟合出每个像素点的偏移量,实现亚像素级配准,计算配准后的主辅图像相关系数;/n步骤二:结合配准时的亚像素级偏移量,对长基线辅图像的卫星位置、卫星速度插值,将主星和辅星的斜距作差,计算出长基线图像中每个像素点对应的有效基线,然后再求出垂直基线,对短基线图像采取与上面相同的操作,获得相应的有效基线和垂直基线;/n步骤三:针对长基线和短基线,选取一合适的固定参考半径,分别推导参考平面的三维坐标信息,然后计算出斜距并换算成与图像对应同一地面点的参考平面的解缠相位;具体的,求解出参考平面每个点的有效基线,这样便能计算出参考平面的解缠相位;/n步骤四:将长、短基线的解缠相位都减去各自的参考平面的解缠相位,然后利用长短垂直基线比例和短基线去参考平面的解缠相位,对长基线解缠相位进行校正;/n步骤五:结合长短基线解缠相位和相关系数,采用最大似然法,进行粗搜索后按垂直基线比例换算出长基线的解缠相位,然后再重复此步骤进行精搜索,获得更高精度的相位,再加上参考平面的解缠相位,最终得到融合之后的长基线解缠相位。/n
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