[发明专利]电子设备的测试系统与方法在审

专利信息
申请号: 201710502528.2 申请日: 2017-06-27
公开(公告)号: CN109142903A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 杨进维 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 郑杏芳
地址: 430205 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 一种电子设备的测试系统,用于对所述电子设备进行测试,所述测试系统包括连接启动模块、图片获取模块及比对判断模块。连接启动模块用于将所述电子设备与测试组件通信连接,并启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试。图片获取模块用于获取所述电子设备的测试结果图像。比对判断模块用于将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果。本发明还提供一种电子设备的测试方法。上述电子设备的测试系统与方法,通过在测试过程中获取测试结果图像并与模板图像进行比对,来实现自动获取测试结果,避免人为测试中的疏漏及误差,同时可节省测试人力成本。
搜索关键词: 电子设备 测试系统 测试 比对判断模块 图片获取模块 测试组件 连接启动 模板图像 图像 测试程序 测试过程 人力成本 通信连接 自动获取 比对
【主权项】:
1.一种电子设备的测试方法,其特征在于,所述测试方法包括以下步骤:将电子设备与测试组件通信连接,并启动所述测试组件的测试程序,以对所述电子设备进行测试;获取所述电子设备的测试结果图像;及将所述测试结果图像与模板图像进行比较,以获取测试结果。
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