[发明专利]用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法及系统有效

专利信息
申请号: 201710504884.8 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN109147828B 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 高山清市;本田隆;藤井隆司;細井亮;张启超;佐佐木務;卢镜滔;聂方龙 申请(专利权)人: 新科实业有限公司
主分类号: G11B5/84 分类号: G11B5/84;G06F11/26
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫
地址: 中国香港新界沙田香*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法,包括:提供一未连接光源单元的磁头体;所述磁头体可移除地安装在一测试磁头悬臂组件上;以垂直于空气承载面的相对面的方向持续地向所述磁头体提供一平顶光束,所述平顶光束与所述光波导光学对准,且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内;以及测试所述磁头体的动态性能。本发明可节省后续工序中的原料成本和人工成本,而且无需在入射光和磁头体的光波导之间进行精确的光学对准,从而提高测试效率。
搜索关键词: 用于 形成 辅助 磁头 动态 性能 测试 方法 系统
【主权项】:
1.一种用于形成热辅助磁头的磁头体的动态性能测试方法,包括:提供一未连接光源单元的磁头体,所述磁头体具有热辅助磁头部分、空气承载面及光波导;所述磁头体可移除地安装在一测试磁头悬臂组件上,所述测试磁头悬臂组件装载在动态测试机上;以垂直于空气承载面的相对面的方向持续地向所述磁头体提供一平顶光束,所述平顶光束与所述光波导光学对准,且所述光波导的入射端在所述方向上的投影位于所述平顶光束的光斑之内;以及测试所述磁头体的动态性能。
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