[发明专利]基于强度调制型光纤传感器的物理量测量方法在审

专利信息
申请号: 201710505393.5 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN107402027A 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: 宋章启;卞强 申请(专利权)人: 宋章启
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353;G01D21/02
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司11429 代理人: 陆薇薇
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种基于强度调制型光纤传感器的物理量测量方法,其传感系统包括激光器产生的激光经过强度调制器后以激光脉冲的形式进入耦合器被分为两路,一路接传感单元,另一路接参考单元。传感单元和参考单元的两路光脉冲在通过各自光纤后都由各自光纤后端连接的光纤反射镜反射回耦合器,在耦合器另一端接收带有传感信息的输出信号,输出的光脉冲信号经过光电探测器转换后进入数据采集模块。本发明作为一种物理量测量方法,在不引入新的扰动源的情况下,可以消除光脉冲源波动和光路中各器件扰动带来的不利影响,从而有效消除系统强度噪声的干扰,能使光纤强度调制型传感器稳定性和系统最小分辨率得到显著提高。
搜索关键词: 基于 强度 调制 光纤 传感器 物理量 测量方法
【主权项】:
一种基于强度调制型光纤传感器的物理量测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S100:在所述强度调制型光纤传感器的传感单元上输入已知物理量,测量受所述已知物理量影响的从传感单元反射后进入信号处理光路的信号光脉冲强度和从参考单元反射后进入所述信号处理光路的参考光脉冲强度,并求取所述信号光脉冲强度与所述参考光脉冲强度的比值S;步骤S200:重复进行所述步骤S100,绘制以所述比值S为纵坐标,所述已知物理量为横坐标的S‑N关系曲线;步骤S300:在所述强度调制型光纤传感器的传感单元上输入待测物理量,得到所述待测物理量对应的比值S,根据所述S‑N关系曲线得到所述待测物理量的估计值;所述强度调制型光纤传感器包括用于产生脉冲激光的激光光路、用于将光脉冲转换为电信号的信号处理光路、用于分束所述脉冲激光的耦合器、用于通过信号光脉冲的传感单元和用于通过参考光脉冲的参考单元;所述耦合器包括与所述激光光路连接的a端口、与所述信号处理光路连接的b端口、与所述传感单元连接的c端口和与所述参考单元连接的d端口。
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