[发明专利]老化测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710506917.2 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN107688125A 公开(公告)日: 2018-02-13
发明(设计)人: 张环 申请(专利权)人: 东莞华贝电子科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;H04M1/24
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)31260 代理人: 成丽杰
地址: 523808 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例涉及通信领域,公开了一种老化测试系统及方法。本发明中,老化测试系统包括待测机和老化架;所述待测机与所述老化架通信连接;所述待测机,用于在进入老化程序测试时,以预设周期向所述老化架发送所述待测机的状态信息;所述老化架,用于以所述预设周期接收所述待测机的状态信息,并在预设时长内未收到所述待测机的状态信息时,触发提醒装置,其中,所述预设时长大于或等于所述预设周期。本发明还公开了一种老化测试方法。与现有技术相比,本发明可以通过老化架实现对待测机老化测试的自动化测试,提高测试效率和精确度,同时避免因人工操作而损伤机器外观的问题,并且还可以减少人工的工作强度,降低测试成本。
搜索关键词: 老化 测试 系统 方法
【主权项】:
一种老化测试系统,其特征在于,包括:待测机和老化架;所述待测机与所述老化架通信连接;所述待测机,用于在进入老化程序测试时,以预设周期向所述老化架发送所述待测机的状态信息;所述老化架,用于以所述预设周期接收所述待测机的状态信息,并在预设时长内未收到所述待测机的状态信息时,触发提醒装置,其中,所述预设时长大于或等于所述预设周期。
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