[发明专利]带有探针光脉冲压缩技术的光延时同源激光泵浦探测装置

摘要

本发明提供一种同时兼顾延时精度与时间分辨率的带有探针光脉冲压缩技术的光延时同源激光泵浦探测装置，属于激光与物质相互作用动态物理过程的激光探测技术领域。具体为：激光器输出的激光入射至分光镜，分光镜将入射的光分成两束，一束入射至第一透镜，另一束入射至倍频晶体，倍频晶体出射的光入射至第一偏振片，偏振后输出的p态偏振光入射至脉宽压缩系统，脉宽压缩系统对入射的光进行脉宽压缩后输出s态偏振光返回至第一偏振片，再反射至全反镜，经全反镜反射的光输入至第一光学延迟系统，延迟后的光入射至待测样品表面的目标区域；经第一透镜透射的光入射至待测样品表面的目标区域；目标区域出射的光滤波后的光入射至第一探测器。

主权项

1.一种带有探针光脉冲压缩技术的光延时同源激光泵浦探测装置，所述装置包括激光器(1)、分光镜(2)、第一透镜(3)、倍频晶体(4)、第一偏振片(5)、脉宽压缩系统(6)、全反镜M1、第一光学延迟系统(7)、窄带滤波片(8)和第一探测器(9)；/n激光器(1)输出的激光入射至分光镜(2)，分光镜(2)将入射的光分成两束，其中一束入射至第一透镜(3)，另一束入射至倍频晶体(4)，倍频晶体(4)倍频后出射的光入射至第一偏振片(5)，经第一偏振片(5)偏振后输出的p态偏振光入射至脉宽压缩系统(6)，脉宽压缩系统(6)对入射的光进行脉宽压缩后输出s态偏振光返回至第一偏振片(5)，再经第一偏振片(5)反射至全反镜M1，经全反镜M1反射的光输入至第一光学延迟系统(7)，第一光学延迟系统(7)输出的光作为探测光入射至待测样品表面的目标区域；/n经第一透镜(3)透射的光作为泵浦光入射至待测样品表面的目标区域；/n经待测样品表面的目标区域的光入射至窄带滤波片(8)，经窄带滤波片(8)滤波后的光入射至第一探测器(9)；/n其特征在于，所述泵浦探测装置还包括第一1/4波片(10)、第二偏振片(11)、第二光学延迟系统(12)、第三偏振片(13)和第四偏振片(14)和第二探测器(15)；/n所述第一1/4波片(10)、第二偏振片(11)、第二光学延迟系统(12)和第三偏振片(13)设置在第一光学延迟系统(7)和待测样品之间的光路上；/n第一光学延迟系统(7)输出的光入射至第一1/4波片(10)，经第一1/4波片(10)透射的光入射至第二偏振片(11)，经第二偏振片(11)反射的光输入至第二光学延迟系统(12)，经第二偏振片(11)透射的光入射至第三偏振片(13)并透射，然后入射至待测样品表面的目标区域；/n第二光学延迟系统(12)输出的光入射至第三偏振片(13)，经第三偏振片(13)反射后入射至待测样品表面的目标区域；/n所述第四偏振片(14)设置在滤波片8和第一探测器(9)之间的光路上，经滤波片8滤波后的光入射至第四偏振片(14)，经第四偏振片(14)透射的光入射至第一探测器(9)，经第四偏振片(14)反射的光入射至第二探测器(15)。/n