[发明专利]一种基于EIS分析的钙钛矿太阳电池电子寿命测试方法有效

专利信息
申请号: 201710507702.2 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN107359860B 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 潘武淳;王磊;王宁;王鼎;倪豪逸;张臻 申请(专利权)人: 河海大学常州校区
主分类号: H02S50/15 分类号: H02S50/15;G01R31/36
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林;张赏
地址: 213022 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于EIS分析的钙钛矿太阳电池电子寿命测试方法,通过在钙钛矿太阳电池上施加一定的直流偏压,并以小振幅的交流电压信号作为扰动信号,进而得到钙钛矿太阳电池的EIS图谱,通过一定的电子元件建立等效电路模型,采用Z‑view软件对构建的等效电路进行拟合分析,确定模型中各个元件参数,通过公式计算得出钙钛矿太阳电池的电子寿命。本发明采用EIS方法,降低了对电池片的损害,提高了测量的精度,通过拟合结果能够直观的计算出电子的寿命,大大减少了运算量,提高了计算速度,具有良好的应用价值。
搜索关键词: 一种 基于 eis 分析 钙钛矿 太阳电池 电子 寿命 测试 方法
【主权项】:
1.一种基于EIS分析的钙钛矿太阳电池电子寿命测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1)选择一个高效钙钛矿太阳能电池片;2)启动电化学工作站,对所选择的钙钛矿太阳能电池片施加一定的直流偏压,并以振幅为10mV‑20mV的交流电压信号作为扰动信号,测试频率为0.1Hz‑106Hz范围进行测量,得到该钙钛矿太阳能电池片阻抗图谱;3)利用ZView对测量得到阻抗图谱进行拟合,建立等效电路模型,并得到等效电路模型的元件参数;具体操作如下:3‑1)首先按高频波段、中频波段和低频波段分析测量结果,建立高频波段采用电阻R与常相位元件CPE并联,中低频波段采用TL或者G元件的等效电路模型;3‑2)对于等效电路模型中的电子元件电阻R,常相位元件CPE和电容C,采用ZView软件进行拟合,确定各个元件参数,最后根据拟合结果增减相应的元件进而调整等效电路模型,进行优化;所述高频波段为106‑103Hz,中频波段为103‑10Hz,低频波段为10‑0.1Hz;4)根据公式τn=1/ωr=Rr*Cμ计算钙钛矿太阳能电池片中电子寿命,根据公式τn=1/ωr=1/2πfmax分析电子寿命的变化规律,其中,τn为电子寿命,fmax为波特图形中频率段最高点对应的频率,ωr为电子在有限层扩散的恒定复合角频率,其与fmax的关系为ωr=2πfmax,Rr和Cμ分别代表不同界面电子复合电阻和电容,Rr和Cμ通过步骤3)拟合得到,ωr在阻抗图谱中根据特征峰值判断。
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