[发明专利]检测高分子材料制品残余主应力的方法有效
| 申请号： | 201710507705.6 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN109141706B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 史颖;郑萃;任敏巧;刘立志 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司北京化工研究院 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01L5/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 王崇;李婉婉 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及高分子材料应力测量领域，公开了一种检测高分子材料制品残余主应力的方法，该方法采用二维X射线衍射法对高分子材料制品的残余主应力进行定量检测，其中，所述高分子材料包含晶区和非晶区，且在残余应力存在下，所述晶区和非晶区的应变量相等。本发明提供的方法成功将二维X射线衍射法应用到常见高分子工程材料的残余主应力的检测，打破了传统二维X射线衍射法只能用于检测多晶金属材料的残余应力的局限性，检测方法简单可控，适用范围广，检测误差小，具有广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 高分子材料 制品 残余 主应力 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测高分子材料制品残余主应力的方法，其特征在于，该方法采用二维X射线衍射法对高分子材料制品的残余主应力进行定量检测，其中，所述高分子材料包含晶区和非晶区，且在残余应力存在下，所述晶区和非晶区的应变量相等。
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