[发明专利]一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法有效

专利信息
申请号: 201710507965.3 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN107273694B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 冯婕;李豫东;文林;于新;张兴尧;郭旗 申请(专利权)人: 中国科学院新疆理化技术研究所
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 代理人: 张莉
地址: 830011 新疆维吾尔*** 国省代码: 新疆;65
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摘要: 发明涉及一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法,该方法通过对同一天在轨暗场测试采集到的十幅图进行统计,得到十幅图中宇宙射线轨迹总数,然后统计每条宇宙射线轨迹在图像上经过的列数,找出每条宇宙射线轨迹中灰度值最大的像素,以该像素为中心像素,其上下左右各个方向上的像素灰度值逐渐降低,寻找各方向上像素的灰度值介于图像背景灰度值的1.5倍和中心像素灰度值之间的所有像素即为宇宙射线信号源覆盖的像素。通过计算宇宙射线轨迹上所有像素的平均灰度值、宇宙射线上方信号源像素的灰度值总和以及宇宙射线下方信号源像素的灰度值总和,计算出总的电荷转移损失率,以此求出基于该条宇宙射线的电荷耦合器件的单次电荷转移效率。本发明实时性强,方法简单,计算结果准确。
搜索关键词: 一种 基于 宇宙射线 电荷耦合器件 电荷 转移 效率 测试 方法
【主权项】:
一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法,其特征在于具体操作按下列步骤进行:a、对在轨电荷耦合器件同一天在轨暗场测试采集到的十幅图进行统计,得到十幅图中宇宙射线轨迹总数N;b、统计每条宇宙射线轨迹在图像上经过的列数Ncolumn;c、找出每条宇宙射线轨迹中灰度值最大的像素,以该像素为中心像素,其上下左右各个方向上的像素灰度值逐渐降低,寻找各方向上像素的灰度值介于图像背景灰度值的1.5倍和中心像素灰度值之间的所有像素即为宇宙射线信号源覆盖的像素;d、计算每条宇宙射线轨迹上所有像素的平均灰度值DNaverage;e、计算每条宇宙射线轨迹上方所有信号源像素的灰度值总和DNup和Ncolumn的比值以及每条宇宙射线轨迹下方所有信号源像素的灰度值总和DNdown和Ncolumn的比值;f、计算每条宇宙射线相对应的总的电荷转移损失率CTI总,然后求出每条宇宙射线相对应的单次电荷转移效率CTE;g、将每条宇宙射线相对应的单次电荷转移效率加和起来求均值CTEaverage,该均值即为在轨电荷耦合器件的电荷转移效率。
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