[发明专利]实现SIM卡热插拔功能的自动化测试系统和测试方法在审
| 申请号： | 201710509489.9 | 申请日： | 2017-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN107169388A | 公开（公告）日： | 2017-09-15 |
| 发明（设计）人： | 贾四海;牛建民 | 申请（专利权）人： | 深圳市泰衡诺科技有限公司上海分公司 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 | 代理人： | 朱成之 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种实现SIM卡热插拔功能的自动化测试系统和测试方法，用于智能移动终端的自动化测试过程，包含S1、基本功能调试阶段，SIM卡空槽测试模块对SIM卡插槽的空槽状态进行测试；如异常，维修SIM卡插槽，返回S1；S2、研发人员自动化测试阶段，热插拔测试模块对插入插槽的SIM卡热插拔功进行测试；如异常，维修SIM卡插槽，返回S2；S3、工厂整机测试阶段，热插拔测试模块对插入插槽的SIM卡热插拔功能进行测试；如异常，将智能移动终端拆机，维修SIM卡插槽，返回S2。本发明确保智能移动终端在研发调试阶段就会被有效拦截排查出未插入SIM卡时的插槽异常及SIM卡热插拔功能异常的问题，可及时对SIM卡插槽进行维修处理，有效提高工厂的测试效率和生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 sim 卡热插拔 功能 自动化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种实现SIM卡热插拔功能的自动化测试系统，其特征在于，用于智能移动终端的生产过程中的自动化测试阶段，包含：主控模块；SIM卡空槽测试模块，与所述的主控模块通信连接，在基本功能调试阶段，由主控模块控制对SIM卡插槽的空槽状态是否正常进行测试；热插拔测试模块，与所述的主控模块通信连接，分别在研发人员自动化测试阶段和工厂整机测试阶段，由主控模块控制对插入插槽的SIM卡热插拔功能是否正常进行测试。
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