[发明专利]多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法

摘要

本发明提供的是一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量；利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量，得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据，计算串扰数据的能量分布曲线，得到光纤的分布式消光比；测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样，利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音，判断左右两端测量结果的差值是否满足要求，如果差值较大需要重新测量，直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高，动态范围大的特点，对探测到的偏振串扰数据进行测量，使测量结果准确、可靠。

主权项

1.一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法，其特征是：步骤一、测量Y波导输入光纤(205)、Y波导输出光纤(209)、45°起偏器尾纤(223)、45°检偏器(227)尾纤(226)、0°检偏器(225)尾纤(224)的长度，得到数据L_in，L_out，L_w‑in，L_w1‑out L_w2‑out；将45°起偏器尾纤(223)与Y波导输入光纤(205)进行0°～0°对准焊接、焊点为第一焊点(204)；将0°检偏器尾纤(224)与Y波导输出光纤(209)进行0°～0°对准焊接、焊点为第二焊点(210)；步骤二、将45°起偏器(222)和0°检偏器(225)接入到分布式光纤偏振串扰测量装置中；打开宽谱光源(201)，驱动光程扫描器(214)，使用光学相干域偏振测量装置测量Y波导输入端光纤的分布式偏振串扰数据V₁(x)；步骤三、将第一和第二焊点(204、210)进行分离，同时将45°起偏器(222)与0°检偏器(225)进行对换，重新焊接，焊接角度均为0°～0°；打开干涉仪，进行光程扫描，测量得到Y波导输出光纤的分布式偏振串扰数据V₂(x)；步骤四、将0°检偏器(225)换成45°检偏器(227)，并将45°检偏器(227)尾纤(226)与Y波导输出光纤(209)、45°起偏器尾纤(223)与Y波导输入光纤(205)进行0°～0°对准焊接，测量得到波导器件的干涉图样V₃(x)；步骤五、利用测量得到的V₁(x)、V₂(x)，V₃(x)，测量Y波导输入光纤(205)、Y波导输出光纤(209)的分布式消光比，同时计算得到两个光纤耦合点(206、208)的串音以及Y波导芯片(207)的消光比，测量Y波导的输入输出光纤的分布式消光比的方法为：(1)、根据测量得到的光纤长度L_in，L_w‑in，找出偏振串扰数据V₁(x)中两个光纤耦合点(206、208)对应的两个干涉峰(602、601)；测量主峰(603)半高全宽的宽度W₆₀₃和峰值处的位置P₆₀₃，利用公式Y_603‑1＝P₆₀₃‑2×W₆₀₃和Y_603‑2＝P₆₀₃+2×W₆₀₃分别计算出主峰完整宽度的左右端点位置；(2)、重复步骤(1)，利用公式Y_601‑1＝P₆₀₁‑2×W₆₀₁和Y_601‑2＝P₆₀₁+2×W₆₀₁、Y_602‑1＝P₆₀₂‑2×W₆₀₂和Y_602‑2＝P₆₀₂+2×W₆₀₂分别得到两个干涉峰(601、602)的完整干涉峰左右端点处的位置Y_601‑1、Y_601‑2、Y_602‑1和Y_602‑2，对位置Y_601‑2到Y_602‑1的干涉结果用公式(1)表示：得到Y波导输入光纤(205)对应的串扰数据的分布式能量曲线；再利用公式计算(1)得到主峰处的能量E₆₀₃，利用公式(2)表示：得到Y波导输入光纤(205)的分布式消光比；(3)、重复步骤(1)‑(2)，利用串扰数据V₂(x)得到Y波导输出光纤(209)的分布式消光比；得到两个光纤耦合点(206、208)的串音以及Y波导芯片(207)的消光比的方法为：(1)、计算得到第一、第二、第四、第六、第八、第十、第十一干涉峰(701、702、704、706、708、710、711)完整宽度的左右端点位置Z_70i‑1和Z_70i‑2，利用公式(1)计算每个干涉峰的能量，利用公式(2)计算耦合点的串音；(2)、对比第一干涉峰(701)与第十一干涉峰(711)、第二干涉峰(702)与第十干涉峰(710)、第四干涉峰(704)与第八干涉峰(708)计算得到的消光比的差值是否小于1dB，如果小于1dB，耦合点的串音表示为左右测量结果的平均值，如果大于1dB，重新计算干涉峰的完整宽度的左右端点位置，再计算消光比。