[发明专利]一种IC封装工艺有效

专利信息
申请号: 201710512394.2 申请日: 2017-06-28
公开(公告)号: CN107342354B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 何忠亮;丁华;郭秋卫;陈镇明 申请(专利权)人: 深圳市环基实业有限公司
主分类号: H01L33/48 分类号: H01L33/48;H01L33/62;H01L33/52
代理公司: 北京鼎承知识产权代理有限公司 11551 代理人: 张波涛;管莹
地址: 518125 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开揭示了一种IC封装工艺,所述工艺生产的载板提高了IC封装密度、精度,在IC封装后基板与封装体可加热分离,简化了封装工艺,而且本公开在封装过程中不需贴高温胶纸,简化了封装工序,有利于节约成本和绿色生产。本公开还可应用在LED行业,如:EMC支架、CSP基板、灯丝灯及软灯条板的的制造和封装。
搜索关键词: 一种 ic 封装 工艺
【主权项】:
1.一种IC封装工艺,其特征在于:所述工艺包括以下步骤:S1、在镀有低熔点金属镀层的刚性导电基板上进行局部树脂涂覆、预镀铜及树脂导电化处理,然后在预镀铜及树脂导电层涂覆感光材料并进行图形转移、电镀、退膜、蚀刻得到IC封装载板;其中,所述低熔点金属镀层的熔点温度为180‑280℃;所述蚀刻具体包括:去除非电极区的电镀铜层并对底电极和顶电极间的侧壁铜层微蚀刻,所述蚀刻选用的蚀刻药水包括碱性蚀刻药水;S2、对所述IC封装载板进行IC封装形成封装体;S3、对所述封装体底部的刚性导电基板进行加热,当刚性导电基板温度超过低熔点金属镀层的熔点温度后,将刚性导电基板与封装体进行分离;S4、对封装体进行表面处理、电测、分割或包装,完成IC封装制程。
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