[发明专利]三维折射率层析显微成像系统及其方法在审

专利信息
申请号: 201710518263.5 申请日: 2017-06-29
公开(公告)号: CN107219619A 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 戴琼海;张明捷;吴嘉敏 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G02B21/06;G02B21/36
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 张润
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种三维折射率层析显微成像系统及其方法,该系统包括光照提供模块,用于提供带有光强编码的入射平行光;显微样本,位于所述光源产生模块的后端,用于对所述入射平行光进行相位编码,使所述入射平行光照射所述显微样本后的出射光线带有所述显微样本的三维折射率场信息;显微成像模块,位于所述显微样本的后端,用于将所述出射光线形成图像;控制模块,用于对所述图像进行处理,以还原重构出所述显微样本的三维折射率信息。本发明具有如下优点通过拍摄各个视角下不含有样本的未扭曲参考图像以及含有样本的扭曲动态视频,即可精确、高分辨率且较快速地对显微样本的三维折射率信息进行采集。
搜索关键词: 三维 折射率 层析 显微 成像 系统 及其 方法
【主权项】:
一种三维折射率层析显微成像系统,其特征在于,包括:光照提供模块,用于提供带有光强编码的入射平行光;显微样本,位于所述光源产生模块的后端,用于对所述入射平行光进行相位编码,使所述入射平行光照射所述显微样本后的出射光线带有所述显微样本的三维折射率场信息;显微成像模块,位于所述显微样本的后端,用于将所述出射光线形成图像;控制模块,用于对所述图像进行处理,以还原重构出所述显微样本的三维折射率信息。
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