[发明专利]一种双光梳精密测角方法及测角系统有效
| 申请号： | 201710523092.5 | 申请日： | 2017-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN107192355B | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 吴冠豪;曾理江;朱泽斌;熊士林;倪凯;周倩 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;刘美丽 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种双光梳精密测角方法及测角系统，其特征在于包括以下内容：设置具有一定重复频率差的第一光频梳和第二光频梳；第一光频梳发出的光脉冲分成两束分别经由设置在测量臂和参考臂的基于光栅的空间姿态无源测头衍射返回合成一束光；合成的此束光与第二光频梳发出的光脉冲发生干涉得到多外差干涉信号，将多外差干涉信号进行处理得到第一光频梳经测量臂返回光脉冲的光谱相位信息，解算出设置在测量臂的基于光栅的空间姿态无源测头的姿态角度。本发明可以广泛应用于空间姿态的高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双光梳 精密 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种双光梳精密测角方法，其特征在于包括以下内容：设置具有一定重复频率差的第一光频梳和第二光频梳；第一光频梳发出的光脉冲分成两束分别经由设置在测量臂和参考臂的基于光栅的空间姿态无源测头衍射返回合成一束光；合成的此束光与第二光频梳发出的光脉冲发生干涉得到多外差干涉信号，将多外差干涉信号进行处理得到第一光频梳经测量臂返回光脉冲的光谱相位信息，解算出设置在测量臂的基于光栅的空间姿态无源测头的姿态角度；所述基于光栅的空间姿态无源测头包括角锥棱镜和透射二维光栅，所述透射二维光栅的出光面与所述角锥棱镜的底面固定连接；入射光以接近垂直的角度入射到所述透射二维光栅，经所述透射二维光栅产生的第一次衍射光分别由所述角锥棱镜反射三次，所述角锥棱镜的出射光与第一次衍射光分别平行，所述角锥棱镜的出射光经所述透射二维光栅发生第二次衍射，经所述透射二维光栅出射的第二次衍射光与原始入射光相互平行。
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