[发明专利]组织密度分析方法及系统在审

专利信息
申请号: 201710523745.X 申请日: 2017-06-30
公开(公告)号: CN107392893A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 邱长云;黄石泉;聂卫文 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201807 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种组织密度分析方法及其系统,所述方法包括获取组织密度分布数据;以一个或多个图表显示获取的组织密度分布数据;调整显示的一个或多个图表中的组织密度分布数据;以及以一个或多个图表显示处理后的组织密度分布数据。本发明提供的组织密度分析方法及其系统交互友好、流程清晰,可灵活和更直观程序组织密度分段的统计结果。
搜索关键词: 组织 密度 分析 方法 系统
【主权项】:
一种组织密度分析方法,包括:获取组织密度分布数据;以一个或多个图表显示获取的组织密度分布数据;调整显示的一个或多个图表中的组织密度分布数据;以及以一个或多个图表显示处理后的组织密度分布数据。
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