[发明专利]一种磁共振射频发射场测量方法及磁共振系统有效
申请号: | 201710524741.3 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN107167751B | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 刘柳;车韶;邹黔;陈俊羽 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/32 | 分类号: | G01R33/32;A61B5/055 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人: | 王刚;龚敏 |
地址: | 201807 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种磁共振射频发射场测量方法及磁共振系统。一方面,该磁共振射频发射场测量方法包括:根据双回聚脉冲自旋回波序列获取射频发射场的图像;从而,根据所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布,识别射频发射场参数。本发明实施例提供的技术方案能够解决现有技术采用单回聚序列得到的射频发射场的图像只能定性的判断射频发射场均匀程度,而不能定量分析出射频发射场相关参数的问题。 | ||
搜索关键词: | 射频发射场 磁共振 磁共振系统 测量 图像 自旋回波序列 定量分析 技术采用 强度分布 相关参数 脉冲 定性 | ||
【主权项】:
1.一种磁共振射频发射场测量方法,其特征在于,所述方法包括:根据双回聚脉冲自旋回波序列获取射频发射场的图像;根据所述射频发射场的图像沿一方向的信号强度分布,识别射频发射场参数;所述双回聚脉冲自旋回波序列包括射频脉冲信号以及梯度脉冲信号;所述射频脉冲信号具有一个激发脉冲以及两个180度的回聚脉冲,其中,所述激发脉冲的角度为360度的整数倍。
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