[发明专利]一种分层介质中目标或缺陷的声学检测方法有效
| 申请号： | 201710525505.3 | 申请日： | 2017-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN107271573B | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 汪承灏;高翔;马军;师芳芳;王文 | 申请（专利权）人： | 中国科学院声学研究所 |
| 主分类号： | G01N29/44 | 分类号： | G01N29/44 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 陈琳琳;刘振 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分层介质中目标或缺陷的声学检测方法，该方法包括：步骤1)将换能器阵列布放于分层介质表面，选择换能器阵列中任意一个阵元向分层介质内发射前向声束，并通过换能器阵列中的其余阵元接收由目标或缺陷反馈的散射信号和界面反馈的反射信号；步骤2)各个阵元根据接收到的散射信号和反射信号均做时间反转处理，模拟生成各阵元对应的逆向声束；步骤3)在分层介质空间中各个点，将接收到的前向声束和各阵元对应的逆向声束分别进行卷积处理，以各阵元在同一点卷积后得到的各个最大值之和作为分层介质空间中该点的声场值，比较获得声场值最高的点对应的坐标作为目标或缺陷所在位置。该方法能够抑制界面信号干扰，实现目标或缺陷定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分层 介质 目标 缺陷 声学 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种分层介质中目标或缺陷的声学检测方法，其特征在于，该方法包括：步骤1)将换能器阵列布放于分层介质表面，选择换能器阵列中任意一个阵元向分层介质内发射前向声束，并通过换能器阵列中的其余阵元接收由目标或缺陷反馈的散射信号和界面反馈的反射信号；步骤2)各个阵元根据接收到的散射信号和反射信号均做时间反转处理，模拟生成各阵元对应的逆向声束；和步骤3)在分层介质空间中各个点，将接收到的前向声束和各阵元对应的逆向声束分别进行卷积处理，以各阵元在同一点卷积后得到的各个最大值之和作为分层介质空间中该点的声场值，比较获得声场值最高的点对应的坐标作为目标或缺陷所在位置。
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