[发明专利]一种大豆物理检测系统在审

专利信息
申请号: 201710530939.2 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN107340039A 公开(公告)日: 2017-11-10
发明(设计)人: 邬元娟;滕晶;万春燕;王峰恩;李腾;王文正 申请(专利权)人: 山东省农业科学院农业质量标准与检测技术研究所
主分类号: G01G11/00 分类号: G01G11/00;G01G11/02;G01N5/00;B07C5/18
代理公司: 济南诚智商标专利事务所有限公司37105 代理人: 侯德玉
地址: 250100 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明给出了一种大豆物理检测系统,包括支撑平台、电动筛选机、输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置,输送带和电动筛选机均设置在支撑平台上,且电动筛选机位于输送带前方,在电动筛选机的前方设置一第一杂质漏孔,样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子,在观察箱前方设置有第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔,质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标,在第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方及输送带的右侧均相对应设置一自动称重装置。该系统能够自动实现大豆内被拣出的杂质及相关不合格豆粒的称重,并通过统计主机实现各项指标的自动计算,不仅提高了大豆检测效率,也降低了检测劳动强度。
搜索关键词: 一种 大豆 物理 检测 系统
【主权项】:
一种大豆物理检测系统,包括支撑平台和电动筛选机,其特征是,该检测系统还包括输送带、样品分析装置、质量统计装置和自动称重装置,所述输送带通过输送带支架设置在所述支撑平台一侧,所述电动筛选机设置在所述支撑平台上,且位于所述输送带前方,在所述支撑平台上还设置一位于所述电动筛选机前方的第一杂质漏孔;所述样品分析装置包括观察箱、分析盘和镊子,所述观察箱为一前侧和底部都没有侧板的方形箱体,所述观察箱设置在所述支撑平台上,且位于所述输送带右侧,在所述观察箱的顶板底平面上设置有检测光源,在所述支撑平台上还设置有位于所述观察箱前方的第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔;所述质量统计装置设置在所述支撑平台上,且位于所述观察箱右侧,所述质量统计装置包括统计主机、键盘和鼠标,在所述统计主机上设置一显示屏,所述键盘和鼠标与所述统计主机相连接,统计主机控制输送带的开启与关闭;在所述第一杂质漏孔、第二杂质漏孔、第三杂质漏孔和第四杂质漏孔的下方均相对应设置一所述自动称重装置,在所述输送带支架的右侧设置一所述自动称重装置,所述自动称重装置包括称重斗和称重传感器,所述称重传感器的称重端与所述称重斗的一侧壁相连接,在所述称重斗的下部设置一前端与所述称重斗的内部相吻合的闸板,所述闸板的后端与一电动伸缩杆的活动端头相连接,所述电动伸缩杆通过一支撑板固定在所述称重斗外侧,所述称重传感器、电动伸缩杆与所述统计主机相对应连接。
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