[发明专利]一种基于聚集诱导发光荧光分子探测技术对高分子吸附和解吸附过程进行快速检测的方法

摘要

一种基于聚集诱导发光荧光分子探测技术对高分子解吸附过程进行快速检测的方法，它涉及利用聚集诱导发光荧光分子探测技术检测高分子解吸附过程的方法。本发明是要解决现有对高分子在表界面动态吸附和解吸附进行检测的方法无法同时具备快速、灵敏性高和无需大型仪器的问题，而提供一种基于聚集诱导发光荧光分子探测技术对高分子吸附和解吸附过程进行快速检测的方法。检测方法：一、确定荧光分子在高分子‑胶体混合液样品中荧光发射特征峰；二、绘制高分子在小球表面的解吸附动力学曲线。本发明样品测试速度快、灵敏性高、不需大型仪器设备。本发明可用于检测高分子动态解吸附的过程。

主权项

1.一种基于聚集诱导发光荧光分子探测技术对高分子解吸附过程进行快速检测的方法，其特征在于基于聚集诱导发光荧光分子探测技术对高分子吸附和解吸附过程进行快速检测的方法按以下步骤进行：步骤一、选取一种聚集诱导发光的荧光分子AIE，确定该荧光分子在200nm～900nm范围具有一个紫外强吸收带；然后以最强吸收峰处附件的波长作为该荧光分子的激发波长，并测定荧光分子在高分子和小球分散液体系中的荧光发射谱；确定荧光分子在高分子‑胶体混合液样品中荧光发射特征峰；步骤二、绘制高分子在小球表面的解吸附动力学曲线：步骤①、选取高分子吸附未达到饱和的一个浓度点，配置胶体‑高分子混合液样品，此时，溶液中不存在自由的未吸附高分子；步骤②、向步骤①中胶体‑高分子混合液样品中加入高浓度的荧光分子原液，混合液样品与按照一定的体积比进行稀释，加入适量的解吸附分子，计为初始时刻t＝0，随着时间的增加，使用Hitachi FP‑6000光谱仪采集不同时间的光谱，数据采集及光谱处理均采用光谱仪自带软件，对采集到的光谱进行平滑处理，记录胶体‑高分子混合液样品的特征峰强度，以时间为横坐标、胶体‑高分子混合液样品的荧光发射特征峰强度为纵坐标建立时间与峰强之间的关系曲线。