[发明专利]一种红外成像仪最小可探测温差自动测试方法及装置

摘要

本发明公开了一种红外成像仪最小可探测温差自动测试的方法及装置，所述方法先将红外成像仪的增益调整到最大，并调节为较大温差使圆孔靶标清洗成像，再降低温差使圆孔靶标成像质量下降为清晰成像的M倍，记录此时温差值；继续降低温差使圆孔靶标成像质量再次成为清晰成像的M倍，记录此时温差值；使用量温差值计算最小可探测温差；所述装置包括用于承载所有设备的光学平台，用于控制环境温度的温度控制模块，用于发出目标红外辐射的差分黑体源模块，用于使差分黑体源形成指定形状和频率的靶标轮模块，用于控制差分黑体源温度的差分黑体源温度控制器，用于控制转化红外辐射形状的平行光管，用于控制各模块的计算机。

主权项

一种红外成像仪最小可探测温差自动测试方法，所述方法包含：步骤1，选择空间频率为f的圆孔靶标，将红外成像仪的增益设置为最大；步骤2，使用差分黑体源温度控制器设置较大的温差值使圆孔靶标清晰成像，所述温差为靶标背景与差分黑体源间的温差；步骤3，逐步降低温差值，采集每次降低后的图像并计算圆孔靶标成像质量，当成像质量降为清晰成像的M倍时，记录温差值为ΔT1，其中0≤M≤1；步骤4，继续降低温差值，采集每次降低后的图像并计算圆孔靶标成像质量，当成像质量再次为清晰成像的M倍时，记录温差值为ΔT2，其中0≤M≤1；步骤5，根据ΔT1和ΔT2计算最小可探测温差；步骤6，更换不同空间频率的圆孔靶标，重复上述步骤测试对应不同空间频率的最小可探测温差，并绘制被测红外成像仪的最小可探测温差曲线。