[发明专利]一种高分辨率光谱仪系统在审

专利信息
申请号: 201710534058.8 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN107271038A 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 纪振华;郑玉权;蔺超 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 罗满
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明实施例公开了一种高分辨率光谱仪系统,包括狭缝、准直镜组件、成像镜组件以及光探测器,系统还包括平面光栅,其中物体发射的光束经狭缝传输至准直镜组件;准直镜组件将光束准直后得到平行光,并使平行光以入射角θ0射向平面光栅;平行光经平面光栅衍射后得到衍射光,衍射光经成像镜组件后汇聚至光探测器上;平面光栅的光栅常数为d,θ0和d同时满足第一关系式和第二关系式,λ为平行光的波长。本发明实施例在使用过程中光束经平面光栅衍射后只得到0级衍射光和+1级衍射光,减少了非工作级次的杂散光,提高了能量利用率,提升了整个系统的性能。
搜索关键词: 一种 高分辨率 光谱仪 系统
【主权项】:
一种高分辨率光谱仪系统,包括狭缝、准直镜组件、成像镜组件以及光探测器,其特征在于,所述系统还包括平面光栅,其中:物体发射的光束经所述狭缝传输至所述准直镜组件;所述准直镜组件将所述光束准直后得到平行光,并使所述平行光以入射角θ0射向所述平面光栅;所述平行光经所述平面光栅衍射后得到衍射光,所述衍射光经所述成像镜组件后汇聚至所述光探测器上;所述平面光栅的光栅常数为d,所述θ0和所述d同时满足第一关系式1<d(1+sinθ0)/λ<2和第二关系式d(sinθ0‑1)/λ>‑1,其中,λ为平行光的波长。
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