[发明专利]测量装置有效

专利信息
申请号: 201710538150.1 申请日: 2017-07-04
公开(公告)号: CN107504921B 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 元少飞;叶贵青;谢祖平;刘维波;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 石佩
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种测量装置。该测量装置包括底板、安装块、测量头及测试块。安装块设置于底板上,安装块开设有贯穿孔。测量头设置于底板上,且测量头与安装块沿贯穿孔的轴向方向间隔设置。测试块的一端用于插设于贯穿孔内,且测试块插设于贯穿孔内时,测试块位于安装块与测量头之间。测量装置测量光学部件时,光学部件的准直头与安装块相连接,准直头的通孔与贯穿孔相连通。光学部件测量时,准直头与安装块相连接,可以避免准直头上的光学镜片长时间裸露在空气中,能够防止光学镜片被污染。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
1.一种测量装置,其特征在于,包括:底板;安装块,设置于所述底板上,所述安装块开设有贯穿孔;测量头,设置于所述底板上,且所述测量头与所述安装块沿所述贯穿孔的轴向方向间隔设置;及测试块,所述测试块的一端用于可拆卸地插设于所述贯穿孔内,且所述测试块的一端插设于所述贯穿孔内时,所述测试块位于所述安装块与所述测量头之间;其中,所述测量装置测量光学部件时,所述光学部件的准直头与所述安装块相连接,所述准直头的通孔与所述贯穿孔相连通;所述测量头用于测得所述测试块插设于所述贯穿孔前、后两次的激光功率,所述测量装置通过比较所述两次的激光功率,进而测试所述光学部件的准直头与激光头的同轴度。
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