[发明专利]扇出型叠层封装结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710542839.1 申请日: 2017-07-05
公开(公告)号: CN107195551A 公开(公告)日: 2017-09-22
发明(设计)人: 陈彦亨;林正忠 申请(专利权)人: 中芯长电半导体(江阴)有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L23/498
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 余明伟
地址: 214437 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种扇出型叠层封装结构及其制备方法,包括如下步骤1)提供一载体;2)于载体的上表面形成重新布线层;3)于重新布线层的上表面形成连接焊球,连接焊球与重新布线层电连接;4)于重新布线层的上表面形成第一半导体芯片,第一半导体芯片与重新布线层电连接;5)于重新布线层的上表面形成塑封层,塑封层填满连接焊球与第一半导体芯片之间的间隙,并将连接焊球及第一半导体芯片塑封;6)去除载体;7)于重新布线层的下表面形成焊料凸块,焊料凸块与所述重新布线层电连接。本发明使用连接焊球作为塑封层内连接重新布线层的连接柱,连接焊球可以采用工艺比较成熟的植球工艺直接形成,工艺简单、成本较低。
搜索关键词: 扇出型叠层 封装 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种扇出型叠层封装结构的制备方法,其特征在于,所述扇出型叠层封装结构的制备方法包括如下步骤:1)提供一载体;2)于所述载体的上表面形成重新布线层;3)于所述重新布线层的上表面形成连接焊球,所述连接焊球与所述重新布线层电连接;4)于所述重新布线层的上表面形成第一半导体芯片,所述第一半导体芯片与所述重新布线层电连接;所述第一半导体芯片的上表面低于所述连接焊球的上表面;5)于所述重新布线层的上表面形成塑封层,所述塑封层填满所述连接焊球与所述第一半导体芯片之间的间隙,并将所述连接焊球及所述第一半导体芯片塑封;所述塑封层的上表面不高于所述连接焊球的上表面;6)去除所述载体;7)于所述重新布线层的下表面形成焊料凸块,所述焊料凸块与所述重新布线层电连接。
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