[发明专利]一种检测装置在审
| 申请号： | 201710545127.5 | 申请日： | 2017-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN107179182A | 公开（公告）日： | 2017-09-19 |
| 发明（设计）人： | 宋佳;卢锁;疏达;李远 | 申请（专利权）人： | 北醒（北京）光子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学测距装置的产品检测领域，尤其是涉及一种检测装置。一种检测装置，包括反射结构和光学测距装置，所述光学测距装置安放有至少一个可拆卸待测测试元件，所述反射结构和光学测距装置的间距可调，所述光学测距装置在每个设定的测试点位测量其与反射结构的间距并输出测量距离或测量光强，通过在每一个测试点位的光学测距装置与反射结构的真实距离和测量距离的比对或真实距离和测量光强的比对，以确定光学测距装置上的待测测试元件是否合格。针对测试元件进行综合的数据测量，利用了光学测距装置的光学测速快速高效的特性，比对快速准确，适用多种测试元件，节省检测设备的占用空间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种检测装置，其特征在于，包括反射结构和光学测距装置，所述光学测距装置安放有至少一个可拆卸待测测试元件，所述反射结构和光学测距装置的间距可调，所述光学测距装置在每个设定的测试点位测量其与反射结构的间距并输出测量距离或测量光强，通过在每一个测试点位的光学测距装置与反射结构的真实距离和测量距离的比对或真实距离和测量光强的比对，以确定光学测距装置上的待测测试元件是否合格。
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