[发明专利]一种具有高衰减系数的机械可控裂结装置在审

专利信息
申请号: 201710545142.X 申请日: 2017-07-06
公开(公告)号: CN107315032A 公开(公告)日: 2017-11-03
发明(设计)人: 杨扬;魏珺颖;罗仲梓;郭维;郑珏婷;皮九婵;张蕊 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00
代理公司: 厦门南强之路专利事务所(普通合伙)35200 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种具有高衰减系数的机械可控裂结装置,涉及机械可控裂结装置。设有骨架底座、步进电机、微芯片和探针装置;所述骨架底座为不锈钢圆柱底座,所述步进电机上开孔,将微芯片、探针装置和步进电机组装固定在开孔上,用于单分子测试;所述步进电机与骨架底座连接;所述微芯片设有聚酰亚胺层和金电极;所述探针装置将微芯片中微小电极引出成平面外界电极,探针装置设有支撑结构和接触结构,所述支撑结构可采用铝合金材料的桥型结构,在支撑结构中心钻有直径1cm的孔洞,用于微芯片的架设;所述接触结构以支撑结构中心孔洞作为分界,两边对称组装上聚酯包膜柔性覆铜板、聚四氟乙烯板、环氧玻纤布基板、银针。
搜索关键词: 一种 具有 衰减系数 机械 可控 装置
【主权项】:
一种具有高衰减系数的机械可控裂结装置,其特征在于设有骨架底座、步进电机、微芯片和探针装置;所述骨架底座为不锈钢圆柱底座,所述步进电机上开孔,将微芯片、探针装置和步进电机组装固定在开孔上,用于单分子测试;所述步进电机与骨架底座连接;所述微芯片设有聚酰亚胺层和金电极;所述探针装置将微芯片中微小电极引出成平面外界电极,探针装置设有支撑结构和接触结构,所述支撑结构采用铝合金材料的的桥型结构,在支撑结构中心钻有孔洞,用于微芯片的架设;所述接触结构以支撑结构中心孔洞作为分界,两边对称组装上聚酯包膜柔性覆铜板、聚四氟乙烯板、环氧玻纤布基板、银针。
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