[发明专利]一种检测方法在审
| 申请号： | 201710545146.8 | 申请日： | 2017-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN107153001A | 公开（公告）日： | 2017-09-12 |
| 发明（设计）人： | 宋佳;卢锁;疏达;李远 | 申请（专利权）人： | 北醒（北京）光子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学测距装置的产品检测领域，一种检测方法，将待测测试元件对应安装在光学测距装置上，通过驱动结构驱动反射结构或光学测距装置连续运动并逐一经过设定的测试点位，所述光学测距装置在每个测试点位测量并输出测量距离，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格；或者，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格。针对测试元件进行综合的数据测量，利用了光学测距装置的光学测速快速高效的特性，比对快速准确，适用多种测试元件，节省检测设备的占用空间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种检测方法，其特征在于，将待测测试元件对应安装在光学测距装置上，通过驱动结构驱动反射结构或光学测距装置连续运动并逐一经过设定的测试点位，所述光学测距装置在每个测试点位测量并输出测量距离，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格；或者，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格。
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