[发明专利]散射光强分布探测系统有效
| 申请号： | 201710545353.3 | 申请日： | 2017-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN107543781B | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 刘伟伟;付璐;陈平;田浩琳;林列 | 申请（专利权）人： | 南开大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06 |
| 代理公司： | 天津耀达律师事务所 12223 | 代理人： | 张耀 |
| 地址： | 300071 天*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种散射光强分布探测系统，其包括：沿光路依次顺序设置的氦氖激光器、光束准直模块、样品池、散射屏、透镜及探测器，由所述氦氖激光器发出的光束经所述光束准直模块准直后入射到所述样品池，所述光束射到所述样品池中的颗粒发生散射，形成不同的散射光强分布在所述散射屏上成像，经所述透镜成像在所述探测器上。所述散射光强分布探测系统无需造价昂贵的大幅面探测器或环形探测器，可以实现仅用市面上常见的探测器就可以实现散射光强分布探测，成本降低，装置简单。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 分布 探测 系统 | ||
【主权项】：
一种散射光强分布探测系统，其特征在于，包括：沿光路依次顺序设置的氦氖激光器、光束准直模块、样品池、散射屏、透镜及探测器，由所述氦氖激光器发出的光束经所述光束准直模块准直后入射到所述样品池，所述光束射到所述样品池中的颗粒发生散射，形成不同的散射光强分布在所述散射屏上成像，经所述透镜成像在所述探测器上。
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