[发明专利]晶片封装体及其制作方法在审
申请号: | 201710547295.8 | 申请日: | 2017-07-06 |
公开(公告)号: | CN107591375A | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 林锡坚;陈智伟;谢俊池;陈岳廷 | 申请(专利权)人: | 精材科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/485;H01L21/56 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 中国台湾桃园市中*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种晶片封装体及其制作方法,该晶片封装体包含晶片、第一绝缘层、重布线层与钝化层。晶片具有感应器、至少一焊垫、相对的顶面与底面、及邻接顶面与底面的侧壁。感应器位于顶面。焊垫位于顶面的边缘。第一绝缘层位于晶片的底面与侧壁上。重布线层位于第一绝缘层上,且重布线层电性接触焊垫的侧面。重布线层至少部分凸出于焊垫而裸露。钝化层位于第一绝缘层与重布线层上,使未凸出焊垫的重布线层位于钝化层与第一绝缘层之间,而凸出焊垫的重布线层位于钝化层上。晶片封装体的感应器因无间隔件覆盖,可提升晶片封装体的感测能力。 | ||
搜索关键词: | 晶片 封装 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种晶片封装体,其特征在于,包含:晶片,具有感应器、至少一焊垫、相对的顶面与底面、及邻接该顶面与该底面的侧壁,其中该感应器位于该顶面,该焊垫位于该顶面的边缘;第一绝缘层,位于该晶片的该底面与该侧壁上;重布线层,位于该第一绝缘层上,且电性接触该焊垫的侧面,且该重布线层至少部分凸出于该焊垫而裸露;以及钝化层,位于该第一绝缘层与该重布线层上,使未凸出该焊垫的该重布线层位于该钝化层与该第一绝缘层之间,而凸出该焊垫的该重布线层位于该钝化层上。
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