[发明专利]基于超像素显著性分析的SAR图像变化检测方法有效

专利信息
申请号: 201710556678.1 申请日: 2017-07-10
公开(公告)号: CN107341800B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 曹向海;王林;冀雅梅;吉贝贝;焦李成 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06T3/40;G06K9/00;G06K9/46;G06K9/62
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于超像素显著性分析的SAR图像变化检测方法,主要解决传统技术检测精度低的问题。其方案是:1)输入在同一场景的两个不同时刻的图,得图像的对数比率图;对对数比率图进行导向滤波得滤波图;2)对滤波图进行超像素分割得到分割图;3)用显著性方法对分割图计算得到显著图;对显著图进行阈值处理,结合两幅不同时刻的图得到差异图;4)用模糊局部信息C均值聚类法对差异图进行聚类,得到变化图。本发明引入超像素分割和导向滤波,不仅降低了SAR图像的噪声,而且得到的显著图有效地提高了SAR图像的精确度,可用于对变化区域的检测。
搜索关键词: 基于 像素 显著 分析 sar 图像 变化 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于超像素显著性分析的SAR图像变化检测方法,包括(1)输入在同一场景的前一时刻的待检测SAR图像G1和后一时刻的待检测SAR图像G2,得到SAR图像的对数比率图:c1=log(G1+1)‑log(G2+1);(2)用导向滤波函数GD对对数比率图c1进行滤波,得到滤波图c;(3)对滤波图c进行超像素分割,得滤波图c的分割图L;(4)计算分割图L每个超像素块的显著值,将每个超像素块的显著值分配给它们各自的像素,得到显著图;(4a)计算每个超像素块的显著值:(4a1)设某个经过超像素分割后的图像X可表示为:X={x1,...,xi,xj,...,xn},xi是X的第i个元素,n是数据总数,xi为第i个超像素点的特征向量,xj为第j个超像素点的特征向量;(4a2)设y是一个指示向量,y=[y1,y2,...,yi,...,yn]T,yi是y的第i个元素,查询点是在图像X中边界上的超像素;(4a3)假设超像素的显著性值为f=[f1,f2,...,fi,fj,...,fn]T,fi是第i个超像素对应的显著值,fj是第j个超像素对应的显著性值;(4a4)给定一个结构图G=(V,E),其中V是结构图G里的像素点的集合,E是结构图G中V中任意两点之间边的集合,其中V中的点是数据集X的数据,每条边E有对应的权值,边E的权值wij由各个点之间的相似性决定:其中是xi是X中第i个超像素特征向量,xj是X中第j个超像素特征向量,σ是控制权值强度的一个常量,e是指数函数的底数;(4a5)由权值wij组成一个加权矩阵:W=[wij]n*n,根据该加权矩阵定义度矩阵:D=diag{d11,...,dii,djj,...,dnn},其中dii是D的对角线上第i个元素,dii=∑jwij,djj是D的对角线上第j个元素,djj=∑iwji;(4a6)根据(4a1)‑(4a5)设置的参数计算平滑度项其中||.||2为二范数;(4a7)根据(4a1)‑(4a5)设置的参数计算适应度项其中||.||2为二范数;(4a8)根据(4a1)‑(4a7)设置的参数计算显著值f*其中μ是控制平滑度项和适应度项的平衡系数;(4a9)令式<1>的导数为零,则可得f*=(D‑αW)‑1*y   <2>其中α是一个系数,(4b)将每个超像素块的显著值分配给它们各自的像素,得到显著图;(5)对显著图进行阈值处理得到阈值图YB,用YB分别对前一时刻的SAR图像G1和后一时刻的SAR图像G2进行点乘运算得到前一时刻的提取图B1和后一时刻的提取图B2,并对这两个提取图B1、B2进行对数比率计算,得到差异图ID;(6)用模糊局部信息C均值聚类方法FLICM对差异图ID进行聚类,得到待检测SAR图像的变化图。
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