[发明专利]一种基于SiO2介质微球的超分辨成像方法在审

专利信息
申请号: 201710559033.3 申请日: 2017-07-11
公开(公告)号: CN107229133A 公开(公告)日: 2017-10-03
发明(设计)人: 周毅;唐燕;陈楚怡;邓钦元;谢仲业;田鹏;李凡星;胡松;赵立新 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G02B27/58 分类号: G02B27/58
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于SiO2介质微球的超分辨成像方法,利用可见光宽光谱照明,通过匀胶机旋转将SiO2介质微球放置于待测结构表面,在常规成像显微镜下观察特征尺寸低于半波长的结构细节。通过改变介质微球的浸没方式,转换显微镜的成像模式和调节物镜与待测物间距离,不断增强成像对比度,最终突破衍射极限,实现超分辨成像。本方法首先通过时域有限差分法,借助仿真软件CST模拟分析介质微球聚焦特性,进而通过Olympus金相显微成像实验,利用CCD(Charge Coupled Device)采集获取成像结果,从而验证其可行性。本方法能在较为简单的光学系统下实现超分辨成像,具有很强的实用性。
搜索关键词: 一种 基于 sio2 介质 分辨 成像 方法
【主权项】:
一种基于SiO2介质微球的超分辨成像方法,其特征是:利用可见光宽光谱照明,通过匀胶机旋转将SiO2介质微球放置于待测结构表面,在常规成像显微镜下观察特征尺寸低于半波长的结构细节;通过优化介质微球的浸没方式,显微镜的成像模式和物镜与待测物间距离等参数,不断增强显微成像质量,最终突破衍射极限,实现超分辨成像;利用时域有限差分法,借助仿真软件CST模拟分析介质微球聚焦特性,通过Olympus金相显微成像实验观察139nm结构,从而验证本方法超分辨成像的可行性。
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