[发明专利]一种基于可调谐半导体激光吸收谱的光程长度分析方法有效
| 申请号： | 201710561094.3 | 申请日： | 2017-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN107389606B | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 周鑫;蒋廷勇;曾红锦 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军63653部队 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39 |
| 代理公司： | 北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙) 11457 | 代理人： | 黄云铎 |
| 地址： | 841700 新疆维吾*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： |
本发明提供了一种基于可调谐半导体激光吸收谱的光程长度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：1)根据环境温度计算氧气谱线多普勒线型宽度Δν |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 调谐 半导体 激光 吸收 光程 长度 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种基于可调谐半导体激光吸收谱的光程长度分析方法，其特征在于，包括以下步骤：1)根据环境温度计算氧气谱线多普勒线型宽度ΔνD；2)对实测的氧气谱线采用Voigt线型拟合算法计算洛伦兹线型宽度ΔνC、吸光度峰值，由Beer‑Lambert定律可知吸光度峰值为Kv0·L，其中，Kv0为线型中心频率v0处的吸收系数，L为光程长度；3)计算Voigt线型函数峰值φV(v0)；4)按下式(I)计算线型中心频率v0处的吸收系数Kv0，其中，P为气体静压，Xo2为氧气组分浓度，S(T)为谱线线强度，据温度查表得到；5)将步骤2)中得到的吸光度峰值除以步骤4)中计算得到的吸收系数Kv0，即可得到光程长度L。
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