[发明专利]一种介电测试样品的制样方法和应用有效
| 申请号： | 201710571334.8 | 申请日： | 2017-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN107271242B | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 李俊玲;刘宝峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春应用化学研究所 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N27/22 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵青朵<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 130022吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种介电测试样品的制样方法，包括以下步骤：a)在下电极放置隔离柱和介电测试样品，得到放置有介电测试样品的下电极；所述介电测试样品分布在以下电极中心为圆心的圆内；b)将步骤a)得到的放置有介电测试样品的下电极进行真空干燥，再覆盖上电极进行压制，得到待测样品。与现有技术相比，本发明提供的制样方法能够测到非极性高分子材料的链段松弛运动，提高介电测试结果的准确率，且能够进行变温测试，即使测试温度超过待测样品玻璃化温度或熔点，依然可以进行正常测试。另外，本发明提供的制样方法没有引入新物质，不会对测试样品造成污染；并且由于隔离柱的存在，样品的流动受到一定限制，样品与电极不易脱落。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 样品 方法 应用 | ||
【主权项】：
1.一种介电测试样品的制样方法，包括以下步骤：/na)在下电极放置隔离柱和介电测试样品，得到放置有介电测试样品的下电极；所述介电测试样品分布在以下电极中心为圆心的圆内；所述介电测试样品选自聚乙烯、聚丙烯或聚丁烯；/nb)将步骤a)得到的放置有介电测试样品的下电极进行真空干燥，再覆盖上电极进行压制，得到待测样品；所述真空干燥的温度为介电测试样品玻璃化温度或熔点以上30℃～50℃。/n
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