[发明专利]一种介电测试样品的制样方法和应用有效

专利信息
申请号: 201710571334.8 申请日: 2017-07-13
公开(公告)号: CN107271242B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 李俊玲;刘宝峰 申请(专利权)人: 中国科学院长春应用化学研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N27/22
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 赵青朵<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 130022吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供了一种介电测试样品的制样方法,包括以下步骤:a)在下电极放置隔离柱和介电测试样品,得到放置有介电测试样品的下电极;所述介电测试样品分布在以下电极中心为圆心的圆内;b)将步骤a)得到的放置有介电测试样品的下电极进行真空干燥,再覆盖上电极进行压制,得到待测样品。与现有技术相比,本发明提供的制样方法能够测到非极性高分子材料的链段松弛运动,提高介电测试结果的准确率,且能够进行变温测试,即使测试温度超过待测样品玻璃化温度或熔点,依然可以进行正常测试。另外,本发明提供的制样方法没有引入新物质,不会对测试样品造成污染;并且由于隔离柱的存在,样品的流动受到一定限制,样品与电极不易脱落。
搜索关键词: 一种 测试 样品 方法 应用
【主权项】:
1.一种介电测试样品的制样方法,包括以下步骤:/na)在下电极放置隔离柱和介电测试样品,得到放置有介电测试样品的下电极;所述介电测试样品分布在以下电极中心为圆心的圆内;所述介电测试样品选自聚乙烯、聚丙烯或聚丁烯;/nb)将步骤a)得到的放置有介电测试样品的下电极进行真空干燥,再覆盖上电极进行压制,得到待测样品;所述真空干燥的温度为介电测试样品玻璃化温度或熔点以上30℃~50℃。/n
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