[发明专利]利用量子技术获取未知信息的方法在审

专利信息
申请号: 201710572158.X 申请日: 2017-07-13
公开(公告)号: CN110009106A 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 宋洪婷;陈亮;袁帅;王成 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G06N10/00 分类号: G06N10/00
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 刘葛
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种利用量子技术获取未知信息的方法,包括:制备单个量子系统的初始状态;通过第k次预设量子操作将所述单个量子系统放入未知信息体系,以使所述单个量子系统参数化为参数化量子系统;对所述参数化量子系统进行测量,获得所述参数化量子系统的当前实测量子态;通过理论量子测量操作对所述参数化量子系统进行测量,获得所述参数化量子系统的当前理论量子态;若所述当前实测量子态与所述当前理论量子态不同,获得观测误差对观测精度的平均偏差,其中所述平均偏差为k次所述当前实测量子态与所述当前理论量子态的平均偏差;若所述平均偏差小于预设误差,通过不完美探测量子方法获取所述参数化量子系统的当前量子状态。
搜索关键词: 量子系统 参数化 量子态 平均偏差 单个量子 未知信息 实测 量子技术 测量 观测误差 量子操作 量子测量 量子状态 系统参数 次预 放入 预设 量子 制备 探测 观测
【主权项】:
1.一种利用量子技术获取未知信息的方法,其特征在于,所述方法包括:制备单个量子系统的初始状态;通过第k次预设量子操作将所述单个量子系统放入未知信息体系,以使所述单个量子系统参数化为参数化量子系统;对所述参数化量子系统进行测量,获得所述参数化量子系统的当前实测量子态;通过理论上量子测量操作对所述参数化量子系统进行测量,获得所述参数化量子系统的当前理论量子态;若所述当前实测量子态与所述当前理论量子态不同,获得普通平均偏差,其中所述普通平均偏差为k次所述当前实测量子态与所述当前理论量子态的平均偏差;若所述普通平均偏差小于预设误差,通过不完美探测量子方法获取所述参数化量子系统的当前量子状态。
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