[发明专利]一种采用高能光子进行复杂环境下精确测距的系统及方法

摘要

本发明公开了一种采用高能光子进行复杂环境下精确测距的系统及方法，该系统包括高能光子发射源系统、发射角度设定系统、探测系统以及统计处理系统；本发明还公开了一种采用高能光子进行复杂环境下精确测距的方法。本发明通过高能光子与被测物体或界面发生康普顿散射等物理过程，散射光子返回探测处理系统进行计数和统计处理，利用计数率反推得到探测点与被测点的距离。

主权项

一种采用高能光子进行复杂环境下精确测距的系统，其特征在于，包括高能光子发射源系统、发射角度设定系统、探测系统以及统计处理系统；所述高能光子发射源系统是发射高能光子的组件，包括X射线管、钴Co‑60伽玛源、铯Cs‑137伽玛源、锌Zn‑65伽玛源、汞Hg‑203伽玛源、铈Ce‑141伽玛源，源体发出的高能光子波长范围为：＜0.01微米；所述发射角度设定系统是高阻挡屏蔽材料组成的用于约束光子出射方向及出射角度的结构组件，选用的屏蔽材料包括重金属铅钨玻璃、有机玻璃、树脂/纳米铅复合材料、稀土合金复合材料、参固体屏蔽剂的混合纤维材料；该组件校准出射光子的方向，而且还起到辐射防护屏蔽的作用，防止射线泄露照射其他区域及范围，保障测量安全可靠进行；所述探测系统接收经介质作用散射回来的高能光子并将其转变为电脉冲信号，包含气体电离探测器、半导体探测器、正比探测器以及闪烁体探测器、微通道板探测器；所述统计处理系统完成对探测系统产生的电脉冲信号的统计分析和处理，根据距离与统计信号之间如下关系；反推得到探测点与被测量体之间的距离：L＝D*EXP*(A+B*X+C*X2)上式中L为测量点与被测体之间的距离，X为信号强度，D、A、B、C为不同环境使用的标定参量。