[发明专利]一种控制蓝宝石晶片抛光TTV/LTV的方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710576492.2 申请日: 2017-07-14
公开(公告)号: CN107139067A 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 王鑫 申请(专利权)人: 青岛嘉星晶电科技股份有限公司
主分类号: B24B37/005 分类号: B24B37/005;B24B53/017
代理公司: 青岛发思特专利商标代理有限公司37212 代理人: 巩同海
地址: 266114 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及材料加工技术领域,尤其涉及一种控制蓝宝石晶片抛光TTV/LTV的方法及装置,首先通过现有设备对蓝宝石晶片进行抛光;然后对抛光后的蓝宝石晶片进行测绘;在通过测绘分析得出蓝宝石晶片边缘TTV/LTV偏高的区域;根据对蓝宝石晶片边缘TTV/LTV数值的分析结合晶片最大利用率原则对抛光盘面进行修整;最后用调整后的抛光盘面对蓝宝石晶片进行抛光,测量抛光后蓝宝石晶片的TTV/LTV,直到达到平整度要求。本发明在加工过程中,边缘磨损相对较低,从而保证较高去除速率同时,保证晶片TTV/LTV质量的稳定性,有效的控制了晶片边缘的TTV/LTV,从而提高了蓝宝石晶片整体平整度,大大增加了晶片利用率。
搜索关键词: 一种 控制 蓝宝石 晶片 抛光 ttv ltv 方法 装置
【主权项】:
一种控制蓝宝石晶片抛光TTV/LTV的方法及装置,其特征在于该方法的控制步骤为:步骤一,首先通过现有设备对蓝宝石晶片(2)进行抛光;步骤二,对抛光后的蓝宝石晶片(2)进行测绘;步骤三,通过测绘分析得出蓝宝石晶片(2)边缘TTV/LTV不符合要求的区域;步骤四,根据对蓝宝石晶片(2)边缘TTV/LTV数值的分析结合晶片(2)最大利用率原则对抛光盘面(3)进行修整;步骤五,用调整后的抛光盘面对蓝宝石晶片(2)进行抛光,测量抛光后蓝宝石晶片(2)的TTV/LTV。
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