[发明专利]一种石墨烯‑二硫化钼侧向异质结光电探测器结构在审
申请号: | 201710578169.9 | 申请日: | 2017-07-16 |
公开(公告)号: | CN107527968A | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
发明(设计)人: | 张永哲;邓文杰;游聪娅;刘北云;陈永锋;申高亮 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H01L31/113 | 分类号: | H01L31/113 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 | 代理人: | 张立改 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种石墨烯‑二硫化钼侧向异质结光电探测器结构,属于光电探测技术领域。光电探测器至少包括硅/二氧化硅衬底,薄层石墨烯材料以及薄层二硫化钼材料组成的沟道材料,还包括必要的金属电极及电极黏附层。在硅衬底上为二氧化硅层,二氧化硅层上为石墨烯‑二硫化钼异质结,其中石墨烯‑二硫化钼异质结中石墨烯和二硫化钼并行在二氧化硅层上,一侧为石墨烯一侧为二硫化钼,形成侧向连接石墨烯‑二硫化钼结型二维材料;在石墨烯和二硫化钼上分别通过电极黏附层粘结有金属电极,形成源漏电极。石墨烯‑二硫化钼侧向异质结光电探测器具有良好整流及光电特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 石墨 二硫化钼 侧向 异质结 光电 探测器 结构 | ||
【主权项】:
一种石墨烯‑二硫化钼侧向异质结光电探测器结构,其特征在于,所述光电探测器至少包括硅/二氧化硅衬底,薄层石墨烯材料以及薄层二硫化钼材料组成的沟道材料,还包括必要的金属电极及电极黏附层。在硅衬底上为二氧化硅层,二氧化硅层上为石墨烯‑二硫化钼异质结,其中石墨烯‑二硫化钼异质结中石墨烯和二硫化钼并行在二氧化硅层上,一侧为石墨烯一侧为二硫化钼,形成侧向连接石墨烯‑二硫化钼结型二维材料;在石墨烯和二硫化钼上分别通过电极黏附层粘结有金属电极,形成源漏电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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