[发明专利]一种材料样块防霉性能的评价方法有效
| 申请号： | 201710582354.5 | 申请日： | 2017-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN107254505A | 公开（公告）日： | 2017-10-17 |
| 发明（设计）人： | 岳京松;张庆玲;姚艳春;赵金丹;冯素梅;段忠亭 | 申请（专利权）人： | 中国家用电器研究院 |
| 主分类号： | C12Q1/18 | 分类号： | C12Q1/18 |
| 代理公司： | 北京联创佳为专利事务所(普通合伙)11362 | 代理人： | 郭防 |
| 地址： | 100037 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种材料样块防霉性能的评价方法，包括以下步骤：S100：在材料样块上培养霉菌；S200：测量材料样块上霉菌菌落的面积；S300：计算所述霉菌菌落面积与材料样块面积的比值；S400:所述霉菌菌落面积与材料样块面积的比值越大，材料样块的防霉性能越差。本发明首先采用统一的培养条件在材料样块上培养霉菌，培养霉菌指定的时间后，计算霉菌表面积和材料样块的表面积比值，根据所述比值大小就能够反应材料样块防霉性能的强弱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 防霉 性能 评价 方法 | ||
【主权项】：
一种材料样块防霉性能的评价方法，其特征在于，包括以下步骤：S100：在材料样块上培养霉菌；S200：测量材料样块上霉菌菌落的面积和材料样块的面积；S300：计算所述霉菌菌落面积与材料样块面积的比值；S400:所述霉菌菌落面积与材料样块面积的比值越大，材料样块的防霉性能越差。
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