[发明专利]光掩模及显示装置的制造方法、光掩模基板的检查方法及装置在审
申请号: | 201710585047.2 | 申请日: | 2017-07-18 |
公开(公告)号: | CN107656420A | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 寺田寿美 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/76 | 分类号: | G03F1/76;G03F1/84 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 黄纶伟,欧阳琴 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种光掩模及显示装置的制造方法、光掩模基板的检查方法及装置。在光掩模的制造方法中,该光掩模在透明基板的第1主面具有基于设计描画数据的转印用图案,所述光掩模的制造方法包括以下工序将在第1主面上层叠了薄膜和抗蚀剂膜的光掩模基板载置在描画装置的载台上;描画工序,对光掩模基板进行描画;以及使用将抗蚀剂膜显影而形成的抗蚀剂图案对薄膜进行图案形成,在描画工序中,准备表示描画装置对光掩模基板的形状带来的变形量的描画装置固有数据、和表示光掩模基板的第2主面形状的背面数据,将起因于描画装置固有数据及背面数据的坐标偏差合成量反映在设计描画数据中,在光掩模基板上描画转印用图案。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 显示装置 制造 方法 光掩模基板 检查 装置 | ||
【主权项】:
一种光掩模的制造方法,该光掩模在透明基板的第1主面具有基于设计描画数据(W1)的转印用图案,其特征在于,所述光掩模的制造方法包括以下工序:将在所述第1主面上层叠了薄膜和抗蚀剂膜的光掩模基板载置在描画装置的载台上;描画工序,对所述光掩模基板进行描画;以及使用将所述抗蚀剂膜显影而形成的抗蚀剂图案,对所述薄膜进行图案形成,在所述描画工序中,准备表示所述描画装置对所述光掩模基板的形状带来的变形量的描画装置固有数据(M1)、和表示所述光掩模基板的第2主面形状的背面数据(S2),将起因于所述描画装置固有数据(M1)及所述背面数据(S2)的坐标偏差合成量(D1)反映在所述设计描画数据(W1)中,在所述光掩模基板上描画转印用图案。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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