[发明专利]封装结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710587742.2 申请日: 2017-07-18
公开(公告)号: CN109273426B 公开(公告)日: 2020-08-18
发明(设计)人: 杨凯铭;林晨浩;蔡王翔;柯正达 申请(专利权)人: 欣兴电子股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L21/48
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 王正茂;丛芳
地址: 中国台湾桃园市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种封装结构及其制造方法,封装结构包括金属层、非导体无机材料与有机材料的复合层、封胶、晶片、线路层结构以及绝缘保护层。非导体无机材料与有机材料的复合层配置于金属层上。封胶结合于非导体无机材料与有机材料的复合层上。晶片嵌埋于封胶中,且晶片具有多个电极垫。线路层结构形成于封胶以及晶片上。线路层结构包括至少一个介电层以及至少一个线路层,介电层具有多个导电盲孔,线路层位于介电层上,且最底层的线路层通过导电盲孔电性连接于电极垫。绝缘保护层形成于线路层结构上。绝缘保护层具有多个开口,使得线路层结构的部分表面外露于开口中。本发明可强化整体的结构强度,以防止翘曲现象产生。
搜索关键词: 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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