[发明专利]测定磁性超薄膜磁性均一度的方法及其应用有效
| 申请号： | 201710588067.5 | 申请日： | 2017-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN109270106B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 何世坤 | 申请（专利权）人： | 中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N24/00 | 分类号： | G01N24/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;谢湘宁 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测定磁性超薄膜磁性均一度的方法及其应用。该方法包括：步骤S1，提供磁性超薄膜样品，并采用铁磁共振法获取磁性超薄膜样品的铁磁共振谱；步骤S2，根据铁磁共振谱建立磁性超薄膜样品的半高全宽随微波频率变化的第一关系曲线；以及步骤S3，线性拟合第一关系曲线，利用拟合结果表征磁性超薄膜样品的均一度。上述方法仅通过铁磁共振法中几个频率的测量，即能够获取磁性超薄膜样品的均一度信息，有效地提高了测定效率、缩短了测定时间。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 磁性 薄膜 均一 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
1.一种测定磁性超薄膜磁性均一度的方法，其特征在于，包括：步骤S1，提供磁性超薄膜样品，采用铁磁共振法获取所述磁性超薄膜样品的铁磁共振谱；步骤S2，根据所述铁磁共振谱建立所述磁性超薄膜样品的半高全宽随微波频率变化的第一关系曲线；以及步骤S3，线性拟合所述第一关系曲线，利用拟合结果表征所述磁性超薄膜样品的均一度。
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