[发明专利]一种材料输运性能测量系统和测量方法有效

专利信息
申请号: 201710588097.6 申请日: 2017-07-18
公开(公告)号: CN109283158B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 汪晓平;项晓东 申请(专利权)人: 宁波英飞迈材料科技有限公司
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01R27/02
代理公司: 深圳市智享知识产权代理有限公司 44361 代理人: 王琴;蔺显俊
地址: 315000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种材料输运性能测量系统,包括椭圆偏振测量装置以及热容测取装置以及控制器,椭圆偏振测量装置依次经光路连接的光源、起偏器、样品架、集成检偏器以及探测器组件;光源发出的光线经过起偏器照射到待测样品,待测样品将光反射到集成检偏器;从待测样品反射出来的多个偏振光线入射到集成偏振器,所述探测器组件与集成偏振器连接分别检测所述多个光学信号,并将多个光学信号对应转换为多个第一电信号输出给控制器;热容测取装置非接触式测量待测样品的温度参数,并将温度参数转换为第二电信号输出给控制器;控制器解析第二电信号和多个第一电信号以获取材料输运性能参数。本发明还提供一种材料输运性能测量方法。
搜索关键词: 一种 材料 输运 性能 测量 系统 测量方法
【主权项】:
1.一种材料输运性能测量系统,其特征在于:包括椭圆偏振测量装置以及热容测取装置以及控制器,所述椭圆偏振测量装置、所述热容测取装置分别与控制器电连接;所述椭圆偏振测量装置包括依次经光路连接的光源、起偏器、样品架、集成检偏器以及探测器组件;所述样品架用于放置待测样品,光源发出的光线经过起偏器照射到待测样品,待测样品将光反射到所述集成检偏器;从待测样品反射出来的多个偏振光线入射到集成偏振器,所述探测器组件与集成偏振器连接分别检测所述多个光学信号,并将多个光学信号对应转换为多个第一电信号输出给控制器;热容测取装置非接触式测量待测样品的温度参数,并将温度参数转换为第二电信号输出给控制器;控制器解析第二电信号和多个第一电信号以获取材料输运性能参数。
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