[发明专利]一种提高滞止式总温探针测量精度的方法有效
申请号: | 201710588477.X | 申请日: | 2017-07-19 |
公开(公告)号: | CN107449527B | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 张伟昊;杨伟平;邹正平;刘火星;王效葵 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01K13/02 | 分类号: | G01K13/02 |
代理公司: | 11251 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种提高滞止式总温探针测量精度的方法,在滞止罩进口及滞止室内布置导流片,将滞止罩进口分成上下两部分。本发明能够较好的组织滞止室内气流,使滞止式总温探针的测量端周围气流速度分布更加均匀,减小气流的脉动性,且能显著的降低冲击测量端的气流速度,减少滞止式总温探针的速度误差,从而提高滞止式总温探针的测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 滞止式总温 探针 测量 精度 方法 | ||
【主权项】:
1.一种提高滞止式总温探针测量精度的方法,其特征在于:在滞止罩进口(1)和滞止室(3)布置有导流片(6);/n所述导流片(6)固定在滞止室内壁(2)面,所述导流片厚度为0.2mm-1mm,所述导流片将进口面积分成上下的两个部分,其中上半部分占进口总面积的1/3~1/2,下半部分占进口总面积的1/2~2/3。/n
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