[发明专利]高量程射线快速测量装置及其测量方法在审

专利信息
申请号: 201710588813.0 申请日: 2017-07-19
公开(公告)号: CN107153213A 公开(公告)日: 2017-09-12
发明(设计)人: 张志勇;李晨;李旭 申请(专利权)人: 上海仁机仪器仪表有限公司
主分类号: G01T1/203 分类号: G01T1/203
代理公司: 上海领洋专利代理事务所(普通合伙)31292 代理人: 罗晓鹏
地址: 200124 上海市崇明县富民支*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种高量程射线快速测量装置及其测量方法,该测量装置具有依次串联电连接的一主探测器、一运放单元、一模数转换单元和一控制单元,所述主探测器具有一塑料闪烁体,所述主探测器具有至少一与所述塑料闪烁体的射线入射端紧贴固定的能量补偿片;所述能量补偿片具有一采用亚克力光导材料制成的基材主体,和一采用硫化锌喷涂在所述基材主体外表面的外涂层。本发明的高量程射线快速测量装置提供一种测量射线种类多,能够提高测量量程及100keV以下的低能射线能量响应时间的高量程射线快速测量装置。
搜索关键词: 量程 射线 快速 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
一种高量程射线快速测量装置,具有依次串联连接的一主探测器、一运放单元、一模数转换单元和一控制单元,所述主探测器具有一塑料闪烁体,其特征在于,所述主探测器具有至少一与所述塑料闪烁体的射线入射端紧贴固定的能量补偿片;所述能量补偿片具有一采用亚克力或高导光率硅胶光导材料制成的基材主体,和一采用硫化锌喷涂在所述基材主体外表面的外涂层。
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