[发明专利]六自由度位姿测量方法及装置

摘要

本发明涉及位姿测量技术领域，具体而言，涉及一种六自由度位姿测量方法及装置。该六自由度位姿测量方法包括：将多个光源设置于第一平面且构成多边形，调整多个光源朝向二维PSD的敏感面。调制电路控制多个光源按预设规则依次发射光线。二维PSD依次接收多个光源发射的光线并转换为相应的电信号。信号采集处理电路根据发射光线的预设规则和接收的电信号获得二维PSD的敏感面相对第一平面的六自由度位姿信息或获得第一平面相对二维PSD的敏感面的六自由度位姿。该六自由度位姿测量方法及装置采用一片二维PSD实现六自由度位姿测量，节省二维PSD数量，简化系统设计。特别的，该六自由度位姿测量方法及装置可用于空间微重力主动隔振装置的六自由度位姿测量。

主权项

1.一种六自由度位姿测量方法，其特征在于，所述方法包括：将多个光源设置于第一平面且构成多边形，调整所述多个光源朝向二维PSD的敏感面；与所述多个光源连接的调制电路控制所述多个光源按预设规则依次发射光线；所述二维PSD依次接收所述多个光源发射的光线并转换为相应的电信号，并将所述电信号发送至与所述二维PSD连接的信号采集处理电路；所述信号采集处理电路根据发射光线的预设规则和接收的电信号确定所述多个光源的位置和所述多个光源在所述二维PSD的敏感面的投影位置；所述信号采集处理电路根据所述多个光源的位置及所述多个光源在所述二维PSD的敏感面的投影位置，获得所述二维PSD的敏感面相对所述第一平面的六自由度位姿或获得所述第一平面相对所述二维PSD的敏感面的六自由度位姿。