[发明专利]滑动聚束SAR的步进扫描影响参数计算方法有效

专利信息
申请号: 201710592160.3 申请日: 2017-07-19
公开(公告)号: CN107462888B 公开(公告)日: 2019-06-25
发明(设计)人: 何志华;易天柱;何峰;董臻;吴曼青;张永胜;黄海风;余安喜;孙造宇;金光虎;张启雷 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/40
代理公司: 国防科技大学专利服务中心 43202 代理人: 王文惠
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提出一种滑动聚束SAR的步进扫描影响参数计算方法。技术方案是:已知滑动聚束SAR的系统参数包括:天线波束步进控制时间、波长、天线方位向尺寸、平台运动速度,等效天线相位中心到场景中心的最近斜距,天线波束的扫描速率,判断最大成对回波的位置相对于主瓣宽度的比值是否某一不等式。如果满足则认为步进扫描对成像结果的影响很小,可忽略。本发明可以应用于滑动聚束SAR的步进扫描影响分析及系统参数优化设计。
搜索关键词: 滑动 sar 步进 扫描 影响 参数 计算方法
【主权项】:
1.一种滑动聚束SAR的步进扫描影响参数计算方法,SAR是指合成孔径雷达,已知滑动聚束SAR的系统参数包括:天线波束步进控制时间Tp,波长λ,天线方位向尺寸L,平台运动速度Vr,等效天线相位中心到场景中心的最近斜距为R0,天线波束的扫描速率其特征在于,具体包括下述步骤:第一步,在滑动聚束SAR工作时采集目标的回波数据,经成像处理后得到在图像方位向响应的成对回波,判断最大成对回波的位置相对于主瓣宽度的比值是否满足如下条件:其中为取整运算,如果满足上述条件,则认为步进扫描对成像结果的影响很小,可忽略;否则,则需要考虑成对回波对成像结果的影响;第二步,如果需要考虑成对回波对成像结果的影响,利用下述公式计算成对回波出现的位置ωcouple及其幅值Acouple其中,m表示第m个成对回波的序号。
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