[发明专利]基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法有效
| 申请号： | 201710596127.8 | 申请日： | 2017-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN107588927B | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 欧艺文;成纯富;吕辉;黄楚云;廖军;曾言;杨张永 | 申请（专利权）人： | 湖北工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武汉华强专利代理事务所(普通合伙) 42237 | 代理人： | 王冬冬 |
| 地址： | 430068 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法，该方法采用频移干涉技术在线获取阵列中每个弱光纤光栅的反射谱和位置，利用光谱遮蔽校正方法由参考弱光栅的反射率依次实现每个待测弱光纤光栅的反射率测量，测量范围宽，消除了光源不平坦度的影响，并且大大降低了系统成本，能够满足大规模阵列中弱光纤光栅的同步精确测量需求。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 干涉 技术 弱光 光栅 反射率 测量方法 | ||
【主权项】：
基于频移干涉技术的弱光纤光栅反射率的测量方法，其特征在于：该方法包含以下步骤：步骤1：将参考弱光栅的一端与频移干涉光纤传感系统中光纤耦合器7的输出端熔接，并将另外一端的端面切平整后浸入折射率已知的介质中；步骤2：采用频移干涉技术分别测得参考弱光栅和光纤端面的反射谱，根据反射谱幅度计算参考弱光栅的反射率；步骤3：保持光路连接固定，迅速将待测弱光纤光栅阵列接入参考弱光栅之后，利用频移干涉技术获取每个弱光纤光栅的反射谱幅度，并识别光栅位置；步骤4：根据参考弱光栅的反射率和各个弱光纤光栅的反射谱幅度，采用光谱遮蔽效应校正法迭代计算待测弱光纤光栅阵列中所有光栅的反射率。
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