[发明专利]层门锁寿命测试装置

摘要

本发明属于层门锁测试领域，公开了一种层门锁寿命测试装置，包括机架，对称安装在机架上的两个支撑座，固定在两个支撑座同一端上的层门锁开关安装支架，均滑动设置在两个支撑座上的驱动平台和被动平台，驱动所述驱动平台滑动的驱动机构，驱动被动平台复位的复位机构，以及连接于驱动机构的控制机构，至少一个层门锁的层门锁开关安装在层门锁开关安装支架上，相对应的所述层门锁的层门门锁总成安装在被动平台上。本发明通过上述结构，能够驱动层门锁的反复上锁和开锁，来检测层门锁的机械寿命以及电气寿命是否合格，其占用空间小、成本低且能够同时测试多个层门锁，测试效率高。

主权项

1.一种层门锁寿命测试装置，其特征在于，包括机架(1)，对称安装在机架(1)上的两个支撑座(2)，固定在两个支撑座(2)同一端上的层门锁开关安装支架(3)，均跨设在两个支撑座(2)上且能沿所述支撑座(2)同一方向滑动的驱动平台(4)和被动平台(5)，驱动所述驱动平台(4)滑动的驱动机构(6)，驱动被动平台(5)复位的复位机构(7)，以及连接于驱动机构(6)的控制机构，至少一个层门锁(90)的层门锁开关(901)安装在层门锁开关安装支架(3)上，相对应的所述层门锁(90)的层门门锁总成(902)安装在被动平台(5)上，所述驱动机构(6)驱动所述驱动平台(4)沿支撑座(2)滑动时，所述驱动平台(4)驱动所述层门门锁总成(902)与层门锁开关(901)分离，且所述层门门锁总成(902)带动被动平台(5)沿支撑座(2)滑动。