[发明专利]一种垂直负矫顽力人工磁耦合结构材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201710600191.9 申请日: 2017-07-21
公开(公告)号: CN107611257B 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 王可;董硕;王亚宏;徐展 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: H01L43/10 分类号: H01L43/10;H01L43/12
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭;陈淑娴
地址: 362000*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种由亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜I、非磁性间隔层和亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜II依次生长而成的人工磁耦合结构材料及其制备方法,亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜II是和薄膜I同样的稀土‑过渡合金材料,通过相同的磁控溅射过程控制不同的沉积厚度制得。亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜I厚度为20‑30nm,是富稀土相,易磁化方向垂直膜面;亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜II厚度为3‑6nm,是富过渡相,易磁化方向为面内或者倾斜接近膜面。利用层间交换耦合作用,可实现人工结构材料的垂直负矫顽力,制备工艺简单,材料性能稳定,可以作为一种新型的磁电、磁传感器件及信息存储材料。
搜索关键词: 一种 垂直 矫顽力 人工 耦合 结构 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种垂直负矫顽力人工磁耦合结构材料,其特征在于:包括依次层叠的亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜I、非磁性间隔层和亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜II;所述亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜I和亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜II是XFeCo合金薄膜,其中X是稀土元素Tb、Dy或Gd;所述亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜I厚度为20‑30nm,其稀土元素X的子晶格磁矩占优,易磁化方向垂直膜面;所述非磁性间隔层的厚度为1‑4nm;所述亚铁磁稀土‑过渡合金薄膜II的厚度为3‑6nm,其过渡元素的子晶格磁矩占优,易磁化方向为面内或者倾斜接近膜面;所述TbFeCo合金薄膜的Tb元素成分不低于25%,DyFeCo合金薄膜的Dy元素成分不低于26%,GdFeCo合金薄膜的Gd元素成分不低于26%。
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