[发明专利]一种针对PCB的缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201710601431.7 | 申请日： | 2017-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN109300102B | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 曾亚军;姚毅;刘士清;赵敏 | 申请（专利权）人： | 凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种针对PCB的缺陷检测方法，包括:步骤1：生成像素类型；步骤2：提取可疑像素；步骤3：生成可疑区域；步骤4：区域聚类成簇；步骤5：聚类簇属性分析。该方法首先根据其微小缺陷灰度信息的特点，在图像中找到其可疑区域，然后再根据其位置来判定是否是缺陷，如此便可将该缺陷检测出来。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 pcb 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种针对PCB的缺陷检测方法，其特征在于，步骤如下:步骤1：生成像素类型；步骤2：提取可疑像素；步骤3：生成可疑区域；步骤4：区域聚类成簇；步骤5：聚类簇属性分析。
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