[发明专利]一种单光子光电器件的测试装置和方法有效
| 申请号： | 201710605536.X | 申请日： | 2017-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN107356855B | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 江晓;丁迅;潘建伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种单光子光电器件的测试装置和方法，光路组件产生脉冲激光，脉冲激光照射单光子光电器件；偏置电路接入单光子光电器件，并为单光子光电器件提供偏置电压及门控信号；信号读出单元连接偏置电路，处理单光子光电器件的输出信号以得到单光子光电器件的参数。本公开的测试装置由标准仪器构建，易于构建，可以实现自动化测试和远程监控，并且测试精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光子 光电 器件 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种单光子光电器件的测试装置，包括：光路组件，用于产生脉冲激光，所述脉冲激光照射单光子光电器件；偏置电路，用于接入所述单光子光电器件，并为所述单光子光电器件提供偏置电压及门控信号；信号读出单元，连接所述偏置电路，用于处理所述单光子光电器件的输出信号以得到单光子光电器件的参数。
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